AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪
4D Technology Corporation
分类:干涉仪
Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。
参数
- Interferometer Configuration: Twyman–Green Interferometer
- Light Source: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um
- Output Polarization: Circular
- RMS Repeatability: <0.00005 waves
- RMS Precision: <0.0005 waves
应用
- 抗振动态测量
- 全车间光学测量
- 平面,聚焦光学,非球面
- 透射波前质量
- 表面形状测量
- 同质性
- 光学厚度
- 曲率半径
关键指标
- 相移和振动不敏感动态干涉测量模式
- 紧凑、轻便、坚固耐用的设计
- 业界领先的可重复性和分辨率
- 极低噪声的可调扩展源
- 连续变焦,全范围精确
- 从网络设备进行无线远程控制
- 可调亮度对准相机
- 6 MP选项可捕捉最高坡度
- 用于测量平面平行曲面的曲面隔离选项
- 33–800毫米孔径
- 355–1550纳米波长