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用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像
Star Tech Instruments
在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。
参数
  • Sensor Type: Other
  • Measurable Sources: CW
  • Wavelength Range: 1 - 200 nm
  • # Pixels (Width): --
  • # Pixels (Height): --
  • Pixel Size (Width): --um
  • Pixel Size (Height): --um
  • Max Full Frame Rate: --Hz
  • ADC: Other
应用

暂无应用说明

关键指标

暂无关键指标