Brewer Science E2Stack AL412 EUV辅助层材料
EUV光刻机面临的较大问题是解决RLS权衡:同时提高分辨率、线宽粗糙度(LWR)和光敏性。AL412旋涂辅助层材料已经显示出降低线边缘粗糙度(LER)和图案塌陷、平坦化形貌、保护下面的层免受高能EUV光子损伤、改善粘附性以及改善图案转移蚀刻选择性。
参数
- Type Of Service: Engineering design
应用
暂无应用说明
关键指标
- 减少由印刷特征的高纵横比引起的图案塌陷和微桥接
- 降低LER/LWR
- 促进粘附并减少显影过程中强毛细管作用力的影响
- 在EUV曝光期间经历比正色调光阻剂更少的放气