ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。