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ContourX-200三维光学轮廓仪
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性,可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台,可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度,提供了布鲁克公司专有的白光干涉(WLI)技术的所有行业公认的优势,而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。
参数
  • Light Source Type: CW LED, Modulated LED
  • Light Source Wavelength: --nm
  • Sample Reflectivity: 0.05 - 100 %
  • Vertical Range: 10000000nm
  • RMS Repeatability: <0.01 nm
  • RMS Precision: <0.1nm
应用

暂无应用说明

关键指标
  • 与放大倍数无关的最佳Z分辨率
  • 最大标准视场
  • 高稳定性、耐振动的紧凑设计