一网打尽全球光电产品
联系我们 注册 / 登录
DAISI V2干涉仪
美国
分类:干涉仪
用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪,配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈,以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外,非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的,可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的,并嵌入到用户友好的软件界面中,以产生无误差和可靠的测量结果。
参数
  • Interferometer Configuration: Not Specified
  • Light Source: 632 nm or 633nm
  • RMS Repeatability: Not Specified
  • RMS Precision: Not Specified
应用

暂无应用说明

关键指标
  • 用于测量PC和APC套圈、连接器和裸光纤的单个单元。
  • 非接触式测量。
  • 快速自动对焦。
  • 一键式轻松操作。
  • 用于自动顶点校准的伺服控制参考镜。
  • 业界最坚固的套圈固定器,具有自动打开/关闭功能。
  • 无外部活动部件或调节螺钉。
  • 振动不敏感。可在手持系统时进行测量。
  • 轻松快速地从PC切换到APC,无需更换套圈支架。
  • 适用于大多数连接器类型的连接器键适配器。特殊的设计提供了方便的装载功能。
  • 可连接到笔记本电脑,只需要一个USB2链路。
  • 用于扩展光纤高度范围的白光扫描选项。
  • 可以将数据导出到数据库,如SQL
  • 报告将导出为HTML文件