FAST SDD 25毫米超高性能硅漂移检测器
我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管(JFET)以及外部前置放大器,与此不同的是,快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体(CMOS)前置放大器,并用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)取代JFET。这显著降低了电容,大大降低了串联噪声,并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器,但带有前置放大器,在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的(较低的)分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线,否则峰值将重叠,从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进;更多的计数提供更好的统计数据。
参数
- Active Area (horizontal): 25mm
- Active Area (vertical): 17mm
- Image Resolution (actual): --lp/mm
- Image Size (horizontal): --Pixels
- Image Size (vertical): --Pixels
- Pixel Size (square): --um
应用
- 超快速台式和手持式XRF分析仪
- 作为EDS系统的一部分,在SEM中扫描/映射样品
- 在线过程控制
- X射线分拣机
- OEM
关键指标
- 25 mm2有效面积准直至17 mm2
- 也可提供70 mm2准直至50 mm2
- 5.9 Kev时的122 eV FWHM分辨率
- 计数率>1,000,000 CPS
- 高峰背比–26,000/1
- 前置放大器输出上升时间<35 ns
- 窗口:BE(0.5密耳)12.5μm,或C系列(Si3N4)
- 辐射硬
- 探测器厚度500μm
- TO-8封装25 mm2 FAST SDD®
- 冷却ΔT>85K
- 多层准直器