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FAST SDD 25毫米超高性能硅漂移检测器
厂商: Amptek Inc
美国
我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管(JFET)以及外部前置放大器,与此不同的是,快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体(CMOS)前置放大器,并用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)取代JFET。这显著降低了电容,大大降低了串联噪声,并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器,但带有前置放大器,在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的(较低的)分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线,否则峰值将重叠,从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进;更多的计数提供更好的统计数据。
参数
  • Active Area (horizontal): 25mm
  • Active Area (vertical): 17mm
  • Image Resolution (actual): --lp/mm
  • Image Size (horizontal): --Pixels
  • Image Size (vertical): --Pixels
  • Pixel Size (square): --um
应用
  • 超快速台式和手持式XRF分析仪
  • 作为EDS系统的一部分,在SEM中扫描/映射样品
  • 在线过程控制
  • X射线分拣机
  • OEM
关键指标
  • 25 mm2有效面积准直至17 mm2
  • 也可提供70 mm2准直至50 mm2
  • 5.9 Kev时的122 eV FWHM分辨率
  • 计数率>1,000,000 CPS
  • 高峰背比–26,000/1
  • 前置放大器输出上升时间<35 ns
  • 窗口:BE(0.5密耳)12.5μm,或C系列(Si3N4)
  • 辐射硬
  • 探测器厚度500μm
  • TO-8封装25 mm2 FAST SDD®
  • 冷却ΔT>85K
  • 多层准直器