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获得专利的C1低能量X射线窗
厂商: Amptek Inc
美国
Amptek获得专利的“C系列”X射线窗口利用带有铝涂层的氮化硅(Si3N4),将我们的硅漂移探测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(B)。它们仅适用于我们的FASTSDD®。Amptek在推出先进款热电冷却探测器时提供了液氮的替代品。现在有了专利的“C系列”,我们为一般的XRF分析提供了铍(Be)窗口的替代方案,与用于软X射线分析的聚合物窗口相比,我们提供了优越的性能。
参数
  • Active Area (horizontal): 6.3mm
  • Active Area (vertical): 30mm
  • Image Resolution (actual): --lp/mm
  • Image Size (horizontal): --Pixels
  • Image Size (vertical): --Pixels
  • Pixel Size (square): --um
应用

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关键指标

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