用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪
日本电子(JEOL)开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪(WDS),该光谱仪利用可变空间光栅,允许高效和并行收集极低能量射线(所谓的“软”X射线)。这些新的软X射线发射光谱仪(SXES)不仅拥有高光谱分辨率(0.3eV),使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV,而且具有超低能量、低浓度灵敏度,即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外,也许是它较强大的资产,是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时,光谱仪可以检测到它们之间的差异,从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳,它们都只由碳构成。
参数
- Measurement Type: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis
- Lowest Level Detection (LLD) Range: 1 - 10 ppm
- Resolution: 0.3eV
应用
暂无应用说明
关键指标
- 优秀的轻元素检测(适用于Li)
- 轻元素化学状态分析的理想选择——对电池研究至关重要
- 极高的灵敏度-钢中的硼含量只有几十ppm
- 能量范围50eV–210eV(甚至二阶和三阶谱线也具有高P/B比和高分辨率)
- 极端光谱分辨率0.3eV Al-L费米边
- 无运动部件,稳定性和再现性高
- 集成分析系统的一部分或作为独立的检测器
- 易于使用的光谱映射