太赫兹成像
太赫兹成像系统是一种用于信息科学与系统科学领域的分析仪器。光电查提供太赫兹成像系统详细介绍包括：厂家信息，品牌信息以及型号信息。
厂商:Menlo Systems GmbH
分类：太赫兹成像
Menlo Systems的Tera Image是一个自动成像单元，可以升级到我们的THz时域光谱系统。它使用户能够在透射或反射几何结构中获取THz图像。测量样品被安装在单元上并放置在THz路径的焦平面中。然后，图像数据由包含扫描的X-y平面的每个数据像素的全部光谱信息的矩阵组成，总范围为150mm×150mm甚至更大。TERA图像的真正优势在于图像数据的分析和可视化。它使用EPINA的Image
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Scan Range: > 150mm X 150mm
Resolution (X Direction): < 500um um
Resolution (Y Direction): < 500um
厂商:Terasense Group
分类：太赫兹成像
探测器采用GaAs高迁移率异质结构，在标准半导体循环中使用传统的光学光刻技术制作。成像传感器被制造在单个晶片上。该过程确保了等离子体检测器参数的高均匀性和再现性（像素到像素的偏差响应度在20%的范围内）。在10 GHz—1 THz频率范围内，每个探测器单元的室温响应度高达50 kV/W，具有读出电路和1 NW/的噪声等效功率。检测机制基于二维电子系统中等离子体振荡的激发以及随后的整流。校正发生在电
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Scan Range: <= 100mm X 100mm
Resolution (X Direction): um, >= 500um um
Resolution (Y Direction): >= 500um
厂商:Terasense Group
分类：太赫兹成像
探测器采用GaAs高迁移率异质结构，在标准半导体循环中使用传统的光学光刻技术制作。成像传感器被制造在单个晶片上。该过程确保了等离子体检测器参数的高均匀性和再现性（像素到像素的偏差响应度在20%的范围内）。在10 GHz—1 THz频率范围内，每个探测器单元的室温响应度高达50 kV/W，具有读出电路和1 NW/的噪声等效功率。检测机制基于二维电子系统中等离子体振荡的激发以及随后的整流。矫正发生在电
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Scan Range: <= 100mm X 100mm
Resolution (X Direction): >= 500um um
Resolution (Y Direction): >= 500um
厂商:Terasense Group
分类：太赫兹成像
探测器采用GaAs高迁移率异质结构，在标准半导体循环中使用传统的光学光刻技术制作。成像传感器被制造在单个晶片上。该过程确保了等离子体检测器参数的高均匀性和再现性（像素到像素的偏差响应度在20%的范围内）。在10 GHz—1 THz频率范围内，每个探测器单元的室温响应度高达50 kV/W，具有读出电路和1 NW/的噪声等效功率。检测机制基于二维电子系统中等离子体振荡的激发以及随后的整流。矫正发生在电
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Scan Range: <= 100mm X 100mm
Resolution (X Direction): >= 500um um
Resolution (Y Direction): >= 500um
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