2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

秒级多元素化学成分分析由于时间关键的过程控制或运行样品高通量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？马尔文PAnalytical Axios Fast SimultaneousWDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素，浓度范围从ppm到100%，是理想的解决方案。准确而强大的分析、经验较少的员工的轻松操作以及高正常运行时间与低拥有成本齐头并进。在时间关键型应用程序中实现快速结果Axios快速 ......

这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分 ......

小型、功能强大的便携式XRF分析仪Epsilon 1是一款完全集成的能量色散XRF分析仪，由光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件组成。在激发和检测技术的较新进展的支持下，Epsilon 1是低成本台式仪器类中的明星产品。Epsilon 1产生快速、经济、精确和准确的数据，对操作员和样品制备的依赖性较小。因此，总运行成本比其他分析技术低得多，例如AAS、ICP和湿化学方法，这些方法成本高并且还需要专 ......

基于成熟的Epsilon 3系列XRF光谱仪的经验和成功，Epsilon 4是一款多功能台式XRF分析仪，适用于从研发到过程控制领域需要从氟（F）到镅（Am）元素分析的任何行业。将较新的激发和检测技术与成熟的软件和智能设计相结合，Epsilon 4的分析性能接近更强大的落地式XRF光谱仪。

Epsilon XFlow的在线液体分析为快速准确地控制工艺参数提供了解决方案。法规和质量规范的增加推动了对连续流程的需求。Epsilon XFlow可实现实时洞察，以更高效地管理生产流程并降低运营成本。

当今的许多数字脉冲处理器即使在低计数率下也会出现脉冲堆积。Falconx仪器使用强大的Sitoro®算法，即使在高计数率下也能准确处理几乎所有检测到的辐射事件，恢复其他脉冲处理器丢弃的数据，并提供卓越的光谱质量。因此，可以在高计数率下实现前所未有的吞吐量。例如，在1 MCPs输出时仅有12%的停滞时间，较大输出计数率约为4 MCPs。FalconX8的分析速度比传统脉冲处理器快得多，从低到高计数率 ......

与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/N ......

FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分，但在质量控制方面，它们也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中；或者，对于较小的项目，如插头，仪器可以配备手动样品台。虽然测量 ......

并不是所有闪光的东西都是金子——更不用说纯金了！如果您想知道它到底含有多少黄金，您可以依靠我们的X射线荧光（XRF）测量仪器：使用Goldscope SD®，您可以快速检查珠宝的真实性，并以非破坏性的方式分析黄金和贵金属的成分。不同Goldscope SD型号的功能可以帮助您在珠宝店、当铺或测试实验室进行较佳的日常工作。这个过程是干净的，不需要任何化学品。与所有Fischer X射线荧光XRF光谱 ......